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Q2 ION直讀光譜儀 Bruker技術優(yōu)勢及特點：

Q2 ION直讀光譜儀 Bruker突破了傳統光譜儀的設計理念，改變了傳統光譜笨重粗大的外觀，顯得非常靈巧。儀器體積大約相當于一臺激光打印機，重量在19公斤左右。除了在實驗室應用外，也便于攜帶到野外，車間等場所進行現場分析。Bruker Q2 ION是非常小，最輕的緊湊型金屬材料分析光譜儀。該儀器可配置為多基體系統，可用于復雜金屬合金材料的來料檢驗和質量控制。其實惠的價格，較低的操作成本，使其成為中小型企業(yè)的理想的分析儀器。Q2 ION 涵蓋了鐵，鋼，鋁，銅，黃銅，青銅等金屬材料中所有主要元素。對于中小型鑄造企業(yè)，金屬加工，制造行業(yè)，質量控制部門，金屬回收甚至檢測機構來說是很理想的分析儀器。除了傳統的分析檢測功能，Q2 ION可以用來進行材料識別（PMI），尤其在金屬材料的來料檢驗和質量控制過程中材料分析有著很大的用途。

? 光學系統：

由于Q2的體積相比傳統光譜儀要小很多，為了不造成儀器性能和精度的損失，Q2在光學設計上摒棄了傳統的羅蘭圓結構，而是采用了最新的平面視場CCD光學系統，由于采用的是平面光柵，所以經色散作用后,所有的分析譜線均聚焦于平面CCD檢測器上，其優(yōu)點是檢測器的每個像素點都得以充分的利用，通過軟件處理和數學解析過程，從而獲取最清晰的分析譜圖。為了保證光學分析率，光學系統采用了三光路設計，第一光路為紫外光路，波長覆蓋范圍為170-294nm，主要用于P、S等紫外元素的分析；第二光路為可見光光路，波長覆蓋范圍為293-411nm,主要用于分析從Mn到Nb等的常規(guī)元素，第三光路為校正光路，波長范圍568nm以上，安裝有氖燈，主要用于像素校正。

? 動態(tài)溫度補償技術（AAC）：

對于傳統光譜儀而言，為了保證儀器的穩(wěn)定性，通常需要專門的恒溫系統，以保證光譜儀內部的穩(wěn)定恒定。因為外界溫度的變化，將會造成光室內部精密結構相對位置的改變，從而影響檢測器信號接收的穩(wěn)定性，造成儀器的分析數據的波動。對于Q2而言，如果設計專門的恒溫系統，意味著結構重量的大大增加。為此，Q2采用了動態(tài)溫度補償技術，該技術基于特殊的材料科學，在同等的外界溫度變化下，能夠有效地補償因熱脹冷縮造成的光室焦距變化，從而確保在一定溫度變化范圍內光室內精密部件相對位置的恒定。實驗證明，在10° 至 45° C的溫度范圍內，AAC技術能夠有效地維持儀器的穩(wěn)定性。

? 非鍍膜CCD檢測器

CCD傳感器是一種新型光電轉換器件，它使用一種高感光度的半導體材料制成，并作為一種新型檢測器被廣泛應用于直讀光譜技術中，但由于紫外光在多晶硅中穿透深度很小，因此通常來說CCD對于紫外波段的響應非常弱，為了分析P,S等紫外元素，需要在CCD上鍍上專門的變頻膜，然而變頻膜的壽命又成為了制約儀器性能的重要因素。為此，Q2了采用全波段CCD檢測器，無需鍍膜即可實現對于紫外波段的響應，從而克服了鍍膜的不利影響。

? 免維護火花臺

考慮到除了面對實驗室環(huán)境外，還可能應對較為復雜嚴苛的野外作業(yè)環(huán)境，Q2專門設計了整體式免維護火花臺技術，避免了傳統光譜儀需要頻繁清潔火花臺和入射透鏡的情況。經優(yōu)化設計的氬氣流在每次激發(fā)過后，均會吹掃入射窗口和激發(fā)電極，并將殘余粉塵帶至尾氣收集管中，從而實現火花臺的自清潔功能。